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扫描透射电子显微镜
扫描透射电子显微镜是既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样,STEM用电子束在样品的表面扫描,但又象TEM,通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
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